高分辨场发射扫描电镜 JSM - 7900F
[ 基础信息 ]
生产国家 : 日本
制造厂商 : 日本电子 ( JEOL Ltd. Japan)
购置日期 : 2017-12-14
规格型号 : JSM-7900F
[ 分类信息 ]
设备类型 :
设备编号 : 201809571
[ 联系信息 ]
联系人 : 常昕, 刘宗然
存放地址 : Array北楼- 224
联系电话 : 010-82801469/13773545202 / 科技楼-北楼-224
联系邮箱 : emlab@bjmu.edu.cn
[ 附加信息 ]
主要附件及配置 :
主要附件及配置
1、EDS：
分辨率：优于127eV (MnKα处,计数率为20000cps), ；1000-50000cps Mn Kα谱峰宽化弱于1ev ；1000-50000cps平均元素定量误差小于0.5%
检测元素范围：Be4-U92
2、冷冻传输：低温制样及表面、截面形貌观察（适合常温脱水后形貌变化显著的样本）
主要功能及特色 :
主要功能和特色（应用范围）
1、扫描电镜：各种样本表面、断面的形貌观察及微区元素分析，尤其适合纳米材料精细形貌的观察。
（组织、培养细胞、微生物、植物、药物制剂、生物工程材料等）
2、EDS：配合扫描电镜，进行微区元素种类和含量分析。
3、冷冻传输：适合液体、凝胶类、电子束敏感试样、需要观察断裂面等样本，在低温下进行制样和形态学观察。
主要规格及技术指标 :
一、JSM-7900F主要技术指标：
1、分辨率： 1.0 nm (0.5 kV) ， 0.7 nm (1.0 kV)，0.6 nm (15 kV), , 3.0 nm (5 kV, 5 nA, WD 10 mm)
2、摄影倍率：×25 ～ ×1,000,000（120x90mm）
3、电子枪 In-lens schottky plus场发射电子枪
3、加速电压： 0.01 kV ～ 30 kV
5、照射电流：数pA ～ 500 nA
二、EDS：
分辨率：优于127eV (MnKα处,计数率为20000cps), ；
1000-50000cps Mn Kα谱峰宽化弱于1ev ；
1000-50000cps平均元素定量误差小于0.5%
检测元素范围：Be4-U92
